本文へスキップ

Facilities

1. Local Structure Analysis

①UHV-SPM
固体表面を原子・分子スケールで画像化し,個々の分子の性質を調べる顕微鏡
②Electrochemical    FM-AFM
(Prototype)
電気化学反応が起こる電極界面の固体側だけでなく,溶液側の局所構造情報を得るために開発した顕微鏡の初号機
③Electrochemical   FM-AFM
(2nd version)
初号機の経験を元にした界面局所構造顕微鏡。真空下での測定にも対応
④Electrochemical   STM
電気化学反応が起こる電極界面の固体側の局所構造・電子状態解析を行う顕微鏡

2. Electronic States Analysis

 
⑤Photoemission Electron Microscopy
(PEEM)
真空紫外線を励起源とした光電子を用いて界面の電子状態解析を行う顕微鏡を備えた装置
⑥Photoelectron Spectroscopy(PES)
X線や真空紫外線を励起源として、表面の元素組成・化学状態を解析する装置(学内共用装置)我々が開発したattachmentにより、電気化学反応が起こる界面近傍の電子状態解析が可能
⑦Auger Electron Spectroscopy (scanning AES)
表面の元素組成・化学状態を解析する装置
⑧Angle variable ATR-FUV spectrometer
波長200 nm以下の遠紫外域(FUV)を含んだ測定波長域140-450 nmのATR型分光装置
        角度可変機構や温度制御ユニットを装備
      
⑨Electrochemical ATR-FUV spectrometer
電気化学環境下での電子励起スペクトル測定にも対応
     

3. Vibrational Spectroscopy

 
⑩Reflection- Absorption Infrared Spectroscopy
(RAIRS)_1
触媒表面に吸着した反応分子の振動スペクトルを測定する装置
⑪Reflection- Absorption Infrared Spectroscopy
(RAIRS)_2
触媒表面に吸着した反応分子の振動スペクトルを測定する装置。常圧近くまでの反応に対応可能
⑫Attenuated Total Reflection IR (ATR-IR)
電解質溶液と接する電極界面に吸着する分子の振動スペクトルを測定する装置

4.Sample Prepartion(partially)

 
⑬Glove box
不活性なガス雰囲気の中で試料調製を行う装置.調製した試料は⑤,⑥の装置まで大気に晒さずに運べる
⑭Evaporator to prepare gold thin film subsrtate
マイカ基板にAuを蒸着して(111)薄膜を作製する専用機
⑮Evaporator
Au以外の金属や有機物の蒸着装置
      
⑯Sputtering Deposition
酸化物光触媒薄膜などの調製を行う装置
      
⑰Draft (3 units)
表面の化学処理、自己組織化単分子膜の調製、前駆体分子の脱保護、電気化学用具の酸洗浄等の処理を行う
     

5.Electrochemistry, Photochemistry(partially)

 
⑱Impedance
電気化学界面のインピーダンス測定等を行うシステム
⑲Photocurrent
光触媒作用をもつ酸化物電極の紫外光照射時の活性評価を行う
⑳Photoemission
光触媒で励起子の再結合で生じる発光(脱励起)により活性評価を行う
     
     

6.Others

 
㉑UV-visible Absoption
(UV-Viz)
紫外・可視領域の吸収を測定.分子,クラスターの同定等に用いる
㉒Differential Thermal Analysis
温度変化に対する試料への熱の出入りを測定・解析する装置
㉓Temperature Programmed Desoption (TPD)
試料表面を昇温しながら脱離してくる分子を解析
      
㉔Fluorecent Microscopy
蛍光を発する標識分子の動きの観察から薄膜形成過程を解析する顕微鏡